Thực đơn
Phổ_tán_sắc_năng_lượng_tia_X Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác của EDXTia X phát ra từ vật rắn (do tương tác với chùm điện tử) sẽ có năng lượng biến thiên trong dải rộng, sẽ được đưa đến hệ tán sắc và ghi nhận (năng lượng) nhờ detector dịch chuyển (thường là Si, Ge, Li...) được làm lạnh bằng nitơ lỏng, là một con chip nhỏ tạo ra điện tử thứ cấp do tương tác với tia X, rồi được lái vào một anốt nhỏ. Cường độ tia X tỉ lệ với tỉ phần nguyên tố có mặt trong mẫu. Độ phân giải của phép phân tích phụ thuộc vào kích cỡ chùm điện tử và độ nhạy của detector (vùng hoạt động tích cực của detector).
Độ chính xác của EDX ở cấp độ một vài phần trăm (thông thường ghi nhận được sự có mặt của các nguyên tố có tỉ phần cỡ 3-5% trở lên). Tuy nhiên, EDX tỏ ra không hiệu quả với các nguyên tố nhẹ (ví dụ B, C...) và thường xuất hiện hiệu ứng trồng chập các đỉnh tia X của các nguyên tố khác nhau (một nguyên tố thường phát ra nhiều đỉnh đặc trưng Kα, Kβ..., và các đỉnh của các nguyên tố khác nhau có thể chồng chập lên nhau gây khó khăn cho phân tích).
Thực đơn
Phổ_tán_sắc_năng_lượng_tia_X Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác của EDXLiên quan
Phổ tần số vô tuyến Phổ tán sắc năng lượng tia X Phổ thông đầu phiếu Phổ Thạnh Phổ Trang Phổ Thuận Phổ tán sắc bước sóng tia X Phổ tổn hao năng lượng điện tử Phổ thông Chuyên Sư phạm Phổ Tường Dục Định Đông lăngTài liệu tham khảo
WikiPedia: Phổ_tán_sắc_năng_lượng_tia_X http://www.learnxrf.com/History.htm http://www.charfac.umn.edu/instruments/eds_on_sem_... http://chimie.scola.ac-paris.fr/sitedechimie/hist_... http://www.microanalyst.net/index_e.phtml https://web.archive.org/web/20080819200810/http://... https://web.archive.org/web/20090219003759/http://... https://commons.wikimedia.org/wiki/Category:spectr...